光伏电池片厚度测量仪器

帝视科技厚度/电阻率检测系统,在线式测量硅片厚度、电阻率测试仪,采用涡电流法,上下各一个探头,重复精确度高。 电话：400-006-5266 核心技术

2024年12月18日 · F20-NIR 结合准直光束平台,使我们能够从反射光谱测量TEC玻璃上太阳能电池碲化镉和硫化镉层的厚度。 测量设定: F20-NIR配准直光束纤维

美能Poly5000在线膜厚测试仪专门针对光伏应用客户设计并开发,光谱范围320~1100nm,光斑70μm,彻底面适用光伏行业的测试环境及条件。 配合美能的光谱拟合法,最高终拟合获得薄膜厚度和光学常数,实现超广测量范围20nm~2000nm和0.5nm的超高重复性精确度。

2015年6月12日 · 专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确确测量。 Labthink兰光,努力于通过包装检测技术提升和检测仪器研发帮助客户应对包装难题,助力包装相关产业的品质安全方位。 了解关于更多相关信息,您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电咨询。 Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。 太阳能

2024年7月9日 · 美能光伏推出Poly在线膜厚测试仪,采用微纳米薄膜光学测量技术,精确确测量太阳能电池薄膜厚度,优化生产流程,提高产品质量。 设备支持快速、自动扫描,实现全方位程产线自动化检测,提高生产效率和质量确保。

2015年5月20日 · 太阳能电池硅片测厚仪（CHY-C2A测厚仪） 采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效确保了测试的规范性和精确性。 专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确确测量。

搭配美能创新的「光谱拟合法」,拟合获得薄膜厚度、光学常数以及膜厚均匀性等信息,实现超广测量范围20nm-2000nm和0.5nm超高重复性精确度。 传统的LED光源,平均有效光谱范围只有400nm-780nm,且在480nm附近会有光谱缺失,导致频谱不稳定,无法确保测试结果的精确性。 POLY5000采用独特的钨卤素灯,有效光谱范围可达320nm-2400nm。 该光源可涵盖从紫外线

2024年9月4日 · 校准硅片可以选取500um左右厚度的硅片,一般要求被测试片的值在两片校准样片测试值之间。 与厚度测试类似,由于环境温度的变化,电阻率测试值可能会出现漂移。

FilmTek™Solar是一款精确确且经济的薄膜厚度测量系统,专为纹理基材设计。 与竞争的椭偏仪设计不同,FilmTek™Solar不需要特殊的台阶倾斜或样品对准。 通过将小的测量光点尺寸与大的收集角度相结合,可以获得无粗糙和纹理基底的非常好信噪比,无需样品对准。

2024年5月17日 · 美国Filmetrics光学膜厚测量仪,利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。 测量精确度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最高具性价比的膜厚测量仪设备。